芯片射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)$n符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.6和IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)是諸多電子產(chǎn)品需要進(jìn)行的抗擾度測(cè)試項(xiàng)目，近年來受到包括低壓電器、電力儀表等對(duì)電磁兼容要求較高的產(chǎn)品關(guān)注，因此根據(jù)試驗(yàn)特點(diǎn)，按照用戶要求，整合業(yè)內(nèi)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品資源，本著提供Z佳性價(jià)比，提供先進(jìn)的技術(shù)，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)原則為用戶提供測(cè)試配置方案。

廣東傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17626.6和IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn).擾度測(cè)試設(shè)備是諸多電子產(chǎn)品需要進(jìn)行的抗擾度測(cè)試項(xiàng)目，近年來受到包括低壓電器、電力儀表等對(duì)電磁兼容要求較高的產(chǎn)品關(guān)注，因此根據(jù)試驗(yàn)特點(diǎn)，按照用戶要求，整合業(yè)內(nèi)優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品資源，本著提供Z佳性價(jià)比，提供先進(jìn)的技術(shù)，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)原則為用戶提供測(cè)試配置方案。